Substrato wafer modello GaN per dispositivi ad alte prestazioni

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Substrato wafer modello GaN per dispositivi ad alte prestazioni

Substrato wafer modello GaN per dispositivi ad alte prestazioni

Wafer modello GaN 1. Cosa sono i modelli? Usiamo il termine "modello" per descrivere i nostri prodotti perché sono dive

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DESCRIZIONE

Informazioni di base
Modello numero:FW-CRISTALLO
Tecnologia di produzioneSemiconduttore optoelettronico
MaterialeSemiconduttori composti
TipSemiconduttore di tipo N
PacchettoSMD
Applicazionetv
MarchioFinewin
materialiGalliumnitride
spessore3-4um o 20um
Misurare2 pollici o 4 pollici
Pacchetto di trasportoCassa
specifica2 POLLICI
marchioFineWin
OrigineJiaozuo-Stadt, provincia di Henan
Capacità produttiva1000 pezzi/mese
Descrizione del prodotto
Wafer modello GaN
1. Cosa sono i modelli?
Usiamo il termine "modello" per descrivere i nostri prodotti perché sono diversi dai substrati. Nello specifico, un modello è un substrato composito o costruito in cui uno o più strati vengono aggiunti al substrato originale.

2.Applicazione

LED blu e bianchi per illuminazione ambientale, display e uso generale

Dispositivi di commutazione di potenza GaN

3.Prodotto disponibile

Modelli GaN da 2" a 4" su FSS e PSS
Modelli GaN spessi (t=3~20μm)
Modello GaN con strato di tipo n altamente drogato (n=<1e19/cm).3)
Sono disponibili modelli di tipo N (non drogato), tipo N (drogato con Si) e tipo P (drogato con Mg).
Modelli GaN sia su substrati di zaffiro che su substrati di silicio

4. Caratteristiche
XRD-FWHM002102
3–4 µm GaN/zaffiro200-300250-450

GaN Template Wafers Substrate for High-Power Device


Densità di dislocazione: 3,5E+08 cm-2

 

5. Specifica
Specifica da 2 pollici
ArticoloGaN-FS-CU-C50GaN-FS-CN-C50GaN-FS-C-SI-C50
DimensioniФ 50,8 mm ± 1 mm
spessore350 ± 25 µm
Area utilizzabile>90%
orientamentoPiano C (0001) Angolo di deviazione rispetto all'asse M 0,35° ± 0,15°
Livello di orientamento(1-100) ± 0,5°, 16,0 ± 1,0 mm
Appartamento con orientamento secondario(11-20) ± 3°, 8,0 ± 1,0 mm
Variazione complessiva dello spessore≤ 15 µm
IL LIBRO≤ 20 µm
Modello di lineaTipo N
(Non drogato)
Tipo N
(drogato Ge)
Semiisolante
(drogato con Fe)
Resistenza (300K)< 0,5 Ω·cm< 0,05 Ω·cm>106 Ω·cm
Densità di dislocazione1~9x105 cm-25x105 cm-2
~3x106cm-2
1~9x105 cm-2
1~3x106 cm-21~3x106 cm-2
lucidaturaSuperficie anteriore: Ra< 0,2 nm. Epi-ready poliert
Dorso: finemente macinato
PacchettoConfezionato in camera bianca di Classe 100, in contenitori wafer singoli, sotto atmosfera di azoto.

Specifica da 4 pollici
ArticoloGaN-TCU-C100GaN-TCN-C100
DimensioniФ 100 mm ± 0,1 mm
spessore4 metri, 20 metri
orientamentoPiano C (0001) ± 0,5°
Modello di lineaTipo N
(Non drogato)
Tipo N
< 0,5 Ω·cm< 0,05 Ω·cm
< 5x1017 cm-3 1x1018 cm-3/td>
90 %/td>


GaN Template Wafers Substrate for High-Power Device